av看片在线免费观看,手机免费亚洲国产电影av,日本大片免费一级,国产精品欧美日韩精品V∧久久,午夜福利国产精品,殴美在线一区二区不卡

您好!歡迎訪問徠卡顯微系統(tǒng)(上海)貿(mào)易有限公司網(wǎng)站!
全國服務咨詢熱線:

17806260618

當前位置:首頁 > 技術文章 > 【點播課程】如何提高微電子元件檢測性能

【點播課程】如何提高微電子元件檢測性能

更新時間:2023-12-09      點擊次數(shù):629

image.png

圖片


在檢查硅片或微電子系統(tǒng)時,你需要看更多嗎?你想得到與電子顯微鏡相似的清晰詳細的樣本圖像嗎?


觀看這個免費的網(wǎng)絡研討會,了解更多關于強大的成像和對比技術,可以提高您的檢查性能。您將了解如何克服分辨率標準,而不需要浸油或轉移到SEM,以實現(xiàn)您想要的檢測結果。

網(wǎng)絡研討會錄音有英文和德文兩種版本。


image.png

  • 強大的成像和對比技術背后的基礎原理,將為您提供高分辨率和對比度。

  • 如何成功地將這些技術應用于日常檢查工作,而無需浸油或轉移到SEM。

  • 了解這些方法的組合如何幫助您提高檢查性能。


image.png


image.png

掃碼觀看點播

image.png

image.png


image.png


徠卡顯微系統(tǒng)(上海)貿(mào)易有限公司
地址:上海市長寧區(qū)福泉北路518號2座5樓
郵箱:lmscn.customers@leica-microsystems.com
傳真:
關注我們
歡迎您關注我們的微信公眾號了解更多信息:
歡迎您關注我們的微信公眾號
了解更多信息
化德县| 金沙县| 罗山县| 宁远县| 洛宁县| 即墨市| 黄石市| 德保县| 琼中| 新丰县| 丰台区| 鄱阳县| 皋兰县| 太湖县| 九龙坡区| 始兴县| 辽源市| 都匀市| 比如县|